半導(dǎo)體試驗(yàn)去哪里做?百檢材料檢測(cè)機(jī)構(gòu)可提供半導(dǎo)體試驗(yàn)服務(wù),為CMA資質(zhì)認(rèn)證機(jī)構(gòu),高新技術(shù)企業(yè),第三方材料實(shí)驗(yàn)室,針對(duì)產(chǎn)品研發(fā)、質(zhì)量控制中遇到的問(wèn)題,提供成分分析、產(chǎn)品檢測(cè)、產(chǎn)品檢測(cè)、儀器檢測(cè)等綜合解決方案,儀器齊全,科研團(tuán)隊(duì)強(qiáng)大,7-15個(gè)工作日可出具試驗(yàn)報(bào)告,支持掃碼查詢真?zhèn)?,全?guó)上門(mén)取樣、寄樣檢測(cè)服務(wù),檢測(cè)周期短、檢測(cè)費(fèi)用低、檢測(cè)數(shù)據(jù)科學(xué)準(zhǔn)確!
試驗(yàn)周期:7-15個(gè)工作日
試驗(yàn)費(fèi)用:工程師根據(jù)客戶檢測(cè)需求以及實(shí)驗(yàn)復(fù)雜程度制定實(shí)驗(yàn)方案進(jìn)行報(bào)價(jià)。
試驗(yàn)項(xiàng)目:耐高低溫試驗(yàn),老化試驗(yàn),可靠性試驗(yàn),晶體試驗(yàn),第三方試驗(yàn),加熱片壽命試驗(yàn),PCT試驗(yàn),鹽霧試驗(yàn),機(jī)械沖擊試驗(yàn),高溫蒸煮試驗(yàn),彎曲試驗(yàn),耐腐蝕試驗(yàn),環(huán)境試驗(yàn),封裝試驗(yàn),溫度循環(huán)試驗(yàn),針孔試驗(yàn),冷熱沖擊試驗(yàn),高低溫快速溫變?cè)囼?yàn),少子壽命試驗(yàn),HAST試驗(yàn),電磁屏蔽試驗(yàn),雷擊浪涌試驗(yàn),耐濕試驗(yàn),芯片斷裂試驗(yàn),熱疲勞試驗(yàn)等。
半導(dǎo)體試驗(yàn)范圍
半導(dǎo)體器件,半導(dǎo)體三極管,半導(dǎo)體芯片,汽車級(jí)半導(dǎo)體,聚烯烴電纜半導(dǎo)體等。
百檢試驗(yàn)報(bào)告有哪些作用?可以幫您解決哪些問(wèn)題?
1、銷售使用。(銷售自己的產(chǎn)品,出具第三方檢測(cè)報(bào)告讓客戶更加信賴自己的產(chǎn)品質(zhì)量)
2、研發(fā)使用。(研發(fā)過(guò)程中,遇到一些比較棘手的問(wèn)題,通過(guò)檢測(cè)報(bào)告數(shù)據(jù)來(lái)解決問(wèn)題,從而縮短研發(fā)周期,降低研發(fā)成本)
3、改善產(chǎn)品質(zhì)量。(通過(guò)對(duì)比檢測(cè)數(shù)據(jù),發(fā)現(xiàn)自身產(chǎn)品問(wèn)題所在,提高產(chǎn)品質(zhì)量,降低生產(chǎn)成本)
4、科研論文數(shù)據(jù)使用。
5、競(jìng)標(biāo),投標(biāo)使用(百檢檢測(cè)周期比較短,檢測(cè)費(fèi)用低,認(rèn)可度比較高,特別適合投標(biāo)使用)
半導(dǎo)體試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
GB/T249-2017半導(dǎo)體分立器件型號(hào)命名方法
GB/T1550-2018非本征半導(dǎo)體材料導(dǎo)電類型測(cè)試方法
GB/T1555-2009半導(dǎo)體單晶晶向測(cè)定方法
GB/T2900.32-1994電工術(shù)語(yǔ)電力半導(dǎo)體器件
GB/T2900.66-2004電工術(shù)語(yǔ)半導(dǎo)體器件和集成電路
GB/T3430-1989半導(dǎo)體集成電路型號(hào)命名方法
GB/T3431.2-1986半導(dǎo)體集成電路文字符號(hào)引出端功能符號(hào)
GB/T3436-1996半導(dǎo)體集成電路運(yùn)算放大器系列和品種
GB/T3859.1-2013半導(dǎo)體變流器通用要求和電網(wǎng)換相變流器第1-1部分:基本要求規(guī)范
GB/T3859.2-2013半導(dǎo)體變流器通用要求和電網(wǎng)換相變流器第1-2部分:應(yīng)用導(dǎo)則
GB/T3859.3-2013半導(dǎo)體變流器通用要求和電網(wǎng)換相變流器第1-3部分:變壓器和電抗器
GB/T3859.4-2004半導(dǎo)體變流器包括直接直流變流器的半導(dǎo)體自換相變流器
GB/T4023-2015半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路第2部分:整流二極管
GB/T4326-2006非本征半導(dǎo)體單晶霍爾遷移率和霍爾系數(shù)測(cè)量方法
GB/T4376-1994半導(dǎo)體集成電路電壓調(diào)整器系列和品種
GB/T4377-2018半導(dǎo)體集成電路電壓調(diào)整器測(cè)試方法
GB/T4586-1994半導(dǎo)體器件分立器件第8部分:場(chǎng)效應(yīng)晶體管
GB/T4587-1994半導(dǎo)體分立器件和集成電路第7部分:雙極型晶體管
GB/T4589.1-2006半導(dǎo)體器件第10部分:分立器件和集成電路總規(guī)范
GB/T4728.5-2018電氣簡(jiǎn)圖用圖形符號(hào)第5部分:半導(dǎo)體管和電子管
GB/T4937.1-2006半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法第1部分:總則
GB/T4937.2-2006半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法第2部分:低氣壓
GB/T4937.3-2012半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法第3部分:外部目檢
GB/T4937.4-2012半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法第4部分:強(qiáng)加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(yàn)(HAST)
GB/T4937.11-2018半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法第11部分:快速溫度變化雙液槽法
GB/T4937.12-2018半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法第12部分:掃頻振動(dòng)
GB/T4937.13-2018半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法第13部分:鹽霧
GB/T4937.14-2018半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法第14部分:引出端強(qiáng)度(引線牢固性)
GB/T4937.15-2018半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法第15部分:通孔安裝器件的耐焊接熱
GB/T4937.17-2018半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法第17部分:中子輻照
GB/T4937.18-2018半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法第18部分:電離輻照(總劑量)
GB/T4937.19-2018半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法第19部分:芯片剪切強(qiáng)度
百檢檢測(cè)有什么優(yōu)勢(shì)?為什么要選擇百檢?
1、百檢是集體所有制檢測(cè)機(jī)構(gòu)。
2、免費(fèi)初檢,初檢期間不收取檢測(cè)費(fèi)用。
3、全國(guó)多家實(shí)驗(yàn)室分支,支持上門(mén)取樣/寄樣檢測(cè)。
4、檢測(cè)周期短,檢測(cè)費(fèi)用,實(shí)驗(yàn)方案齊全。
5、資質(zhì)齊全,實(shí)驗(yàn)室儀器齊全,科研團(tuán)隊(duì)強(qiáng)大。
6、36種語(yǔ)言支持編寫(xiě)MSDS服務(wù)
百檢寄樣檢測(cè)流程
1、寄樣
2、免費(fèi)初檢
3、報(bào)價(jià)
4、雙方確定,簽訂保密協(xié)議,開(kāi)始實(shí)驗(yàn)
5、7-15個(gè)工作日完成實(shí)驗(yàn)
6、出具檢測(cè)報(bào)告,后期服務(wù)。
以上是關(guān)于半導(dǎo)體試驗(yàn)的相關(guān)介紹,如有其他需求可以咨詢實(shí)驗(yàn)室工程師幫您解答。