可靠性實驗室_環(huán)境可靠性試驗檢測中心
1.低溫試驗
艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗低溫貯存試驗GJB4.4-1983
艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗低溫試驗GJB4.3-1983
電子測試設(shè)備通用規(guī)范GJB3947A-2009
計算機通用規(guī)范GJB322A-1998
通信設(shè)備通用規(guī)范GJB367A－2001
裝備實驗室環(huán)境試驗方法第4部分：低溫試驗GJB150.4A-2009
2.高溫試驗
艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗高溫試驗GJB4.2-1983
電子及電氣元件試驗方法GJB360B-2009
微電子器件試驗方法和程序GJB548B-2005
電子測試設(shè)備通用規(guī)范GJB3947A-2009
計算機通用規(guī)范GJB322A-1998
通信設(shè)備通用規(guī)范GJB367A－2001
裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗GJB150.3A-2009
3.交變濕熱試驗
艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗交變濕熱試驗GJB4.6-1983
電子及電氣元件試驗方法GJB360B-2009
微電子器件試驗方法和程序GJB548B-2005
電子測試設(shè)備通用規(guī)范GJB3947A-2009
通信設(shè)備通用規(guī)范GJB367A－2001
裝備實驗室環(huán)境試驗方法第9部分：濕熱試驗GJB150.9A-2009
4.恒定濕熱試驗
電子及電氣元件試驗方法GJB360B-2009
計算機通用規(guī)范GJB322A-1998
5.振動試驗
電子測試設(shè)備通用規(guī)范GJB3947A-2009
計算機通用規(guī)范GJB322A-1998
通信設(shè)備通用規(guī)范GJB367A－2001
裝備實驗室環(huán)境試驗方法第16部分：振動試驗GJB150.16A-2009
艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗振動試驗GJB4.7-1983
電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選方法GJB1032-1990
電子及電氣元件試驗方法GJB360B-2009
微電子器件試驗方法和程序GJB548B-2005
6.溫度變化
電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選方法GJB1032-1990
計算機通用規(guī)范GJB322A-1998
通信設(shè)備通用規(guī)范GJB367A－2001
7.跌落
電子測試設(shè)備通用規(guī)范GJB3947A-2009
計算機通用規(guī)范GJB322A-1998
通信設(shè)備通用規(guī)范GJB367A－2001
裝備實驗室環(huán)境試驗方法第18部分：沖擊試驗GJB150.18A-2009
8.機械沖擊
艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗沖擊試驗GJB4.9-1983
電子及電氣元件試驗方法GJB360B-2009
微電子器件試驗方法和程序GJB548B-2005
電子測試設(shè)備通用規(guī)范GJB3947A-2009
計算機通用規(guī)范GJB322A-1998
通信設(shè)備通用規(guī)范GJB367A－2001
裝備實驗室環(huán)境試驗方法第18部分：沖擊試驗GJB150.18A-2009
9.鹽霧
艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗鹽霧試驗GJB4.11-1983
電子及電氣元件試驗方法GJB360B-2009
微電子器件試驗方法和程序GJB548B-2005
電子測試設(shè)備通用規(guī)范GJB3947A-2009
計算機通用規(guī)范GJB322A-1998
通信設(shè)備通用規(guī)范GJB367A－2001
裝備實驗室環(huán)境試驗方法第11部分：鹽霧試驗GJB150.11A-2009
10.溫度沖擊
計算機通用規(guī)范GJB322A-1998
電子及電氣元件試驗方法GJB360B-2009
通信設(shè)備通用規(guī)范GJB367A－2001
裝備實驗室環(huán)境試驗方法第5部分：溫度沖擊試驗GJB150.5A-2009